Xradia 510 Versa系统可以提供各种尺寸样品和原位实验样品的内部结构、体积、界面、缺陷(如裂纹和空洞等)等3D定量信息。Xradia Versa还能够提供独特的相衬度成像, 可以对硬材料，软材料(如生物组织)和轻质材料(如水、纸张)等进行高衬度的X射线衍射折射测量成像, 而不是仅使用X射线吸收成像。设备广泛应用于包括各种岩石、煤炭、古生物土壤、材料、陶瓷、电子、生物等材料，对各种样品的内部结构在亚微米尺度的三维成像和定量化研究。

Xradia 510 Versa高分辨率三维 X射线显微镜

Xradia 510 Versa高分辨率三维 X射线显微镜分析流程图

样品扫描结果示例

主要技术指标： 

无损伤、三维和虚拟断层成像，不需制样或只需简单制备

分辨率：最高3D空间分辨率≤0.7μm

高压范围30~160kV（可以自由调节），最大功率10W

具备蔡司XMReconstructor快速三维数据重构软件，XM3DViewer三维数据可视化软件，展示三维重构结果，包括虚拟断层，着色、渲染、透视等