基于蔡司Zeiss显微镜的裂变径迹测量系统

　　本实验室的裂变径迹数量和长度测量系统是实验室与蔡司公司在ZEISS的Axio Imager M2m显微镜基础上研发的：包括定位模块和测量模块，定位模块包括基于样品的粗定位和基于矿物颗粒的精细定位，测量模块包括径迹数量、面积测量、径迹长度测量。测试系统设计更加自动化、智能化、精确化。

　　主要研究方向和内容：

　　造山带、活动断裂带、沉积盆地等低温热年学研究

低温矿物（锆石、磷灰石、石膏等）裂变径迹定年研究